处于统计控制状态的某过程的多个子组均值突然增大，则均值控制图上可能出现的情况有（ ）。A.连续多点落在中心线的下侧B.连续多点落在中心线上侧的B区以外C.连续多点落在中心线两侧且无一在C区内D.连续多点落在中心线上侧的C区以外E.连续多点落在中心线两侧的C区内

题目

处于统计控制状态的某过程的多个子组均值突然增大，则均值控制图上可能出现的情况有（ ）。

A.连续多点落在中心线的下侧

B.连续多点落在中心线上侧的B区以外

C.连续多点落在中心线两侧且无一在C区内

D.连续多点落在中心线上侧的C区以外

E.连续多点落在中心线两侧的C区内

相似考题

1.经判断过程能力满足要求后，转为控制用控制图监控过程。新收集了一组样本8.1、 7.9、8.3、8.0和8.2，则以下正确的有( )A．均值图上的描点值为8.1B．标准差图上的描点值为0.1C．样本均值在均值图的控制限内D．样本标准差在标准差图的控制限内

2.关于技术控制状态和统计控制状态的说法，正确的有（ ）。A.没有达到技术控制状态则没有达到统计控制状态B.分析用控制图上的点子在控制限内随机排列，则过程达到统计控制状态C.处于统计控制状态的过程一定处于技术控制状态D.没达到统计控制状态的过程不能计算过程能力指数c，E.处于统计控制状态的过程可能并未达到技术控制状态

3.控制用均值控制图上最后的9个点子如下图所示，正确的有（ ）。A.过程未处于统计控制状态B.过程的均值有减小的趋势C.过程的标准差有增大的趋势D.过程的不合格品率肯定会减小E.过程偏离分布中心的程度减小

4.使用控制用均值一极差控制图监控过程时，若根据某子组数据计算的样本点落在控制限外，则（ ）。A.需要重新计算控制限B.该子组中一定有不合格品C.可判定过程处于统计失控状态D.不能拒绝过程处于统计控制状态这个假设、

参考答案和解析
正确答案：BD
多个子组均值突然增大，则点子将落在中心线上侧的C区和8区以外。
更多“处于统计控制状态的某过程的多个子组均值突然增大,则均值控制图上可能出现的情况有( )。A.连续多 ”相关问题

  • 第1题：

    关于统计控制状态的谫法，正确的有（ ）。

    A.判定过程处于统计控制状态时，控制图上的点子均在控制限内

    B.判定过程处于统计控制状态时，控制图上的点子在中心线上下随机分布

    C.统计控制状态是指过程只有偶然因素的状态

    D.统计控制状态是指过程能力充足的状态

    E.统计控制状态是指过程既有偶然因素又有异常因素的状态


    正确答案：ABC
    统计控制状态下的过程并不一定过程能力充足。

  • 第2题：

    汽车配件公司对产品的某质量特性进行统计过程控制，每隔1小时抽取一个子组，每组包含5件产品，连续抽取了20组。
    控制图上显示有连续8点在中心线两侧何无一在C区,造成这种现象的可能原因是（ ）。

    A.过程均值增大 B.过程均值减少

    C,工具逐渐磨损 D.数据来自两个不同的总体


    答案：D
    解析：

  • 第3题：

    汽车配件公司对轴的直径进行统计过程控制，每隔1小时抽取一个子组，每组包含5件产品，连续抽取了20组。
    若过程处于统计控制状态，则控制图上出现（ ）是小概率事件。
    A.点子落在控制限外 B.点子在中心线上下随机散布
    C.连续9点落在中心线的同一侧 D.连续7点递增


    答案：A,C,D
    解析：
    如过程处于稳态，则点子落在控制限外以及非随机排列出现是小概率事件。CD 两项属于非随机排列情形。

  • 第4题：

    汽车配件公司对产品的某质量特性进行统计过程控制，每隔1小时抽取一个子组，每组包含5件产品，连续抽取了20组。
    若过程处于统计控制状态，则控制图上出现（ ）是小概率事件。

    A.点子落在控制限外

    B.点子在中心线上下随机散布

    C.连续9点落在屮心线的同一侧

    D.连续7点递增


    答案：A,C,D
    解析：
    。

  • 第5题：

    加工一种轴承，其规格为（10±0.08) mm。要求CPK≥1。收集25组数据绘制分析用控制图，未显示异常。计算得到：μ=10. 04mm σ= 0. 02 mm。
    下列推断中，正确的是（ ）。
    A.过程处于统计控制状态和技术控制状态
    B.过程处于统计控制状态，未处于技术控制状态
    C.过程未处于统计控制状态，处于技术控制状态
    D.过程未处于统计控制状态和技术控制状态


    答案：B
    解析：
    。分析用控制图上未显示异常，表明过程处于统计控制状态。Cpk=2/3

  • 第6题：

    关于过程状态的说法，正确的有（ ）。

    A.在统计控制状态下，可以预测过程波动的大小

    B.当过程处于失控状态时，过程的分布将发生改变

    C.过程处于统计控制状态时，CP≥1

    D.异常因素会导致过程失控

    E.当控制图上所有点子都落在控制限内时，可以判断过程一定处于统计控制状态


    答案：A,B,D
    解析：
    。处于统计控制状态，只是表明此时可估计过程保证质量的水平，但不能说明过程能力指数大于等于1。选项E错误，当控制图上所有点子都落在控制限内时，且随机排列时，才可以判定过程处于统计控制状态。

  • 第7题：


    关于所使用的控制用控制图的说法，正确的有（）。
    A.均值图上的控制上限为公差上限4.1，控制下限为公差下限3. 9
    B.均值图上的描点为每个子组内5个轴承内径数值的平均值
    C.标准差图上的描点为每个子组内5个轴承内径数值的标准差
    D.如果有点子出界，则需重新修订控制限


    答案：B,C
    解析：
    。均值图的控制限与规范限无关，选项A错误；只有过程发生变化（5M1E) 时，才需要修订控制限。

  • 第8题：

    以下关于过程统计控制状态，说法不正确的是（）

    • A、过程中没有异常因素影响，则说过程处于过程统计控制状态
    • B、过程统计控制状态的好处是可预测下一时间的过程波动
    • C、过程处于过程统计控制状态，则说明过程的产品处于规格限内
    • D、过程统计控制状态是进行过程能力分析的前提条件

    正确答案:C

  • 第9题：

    利用控制图识别生产过程的状态，（　）可以认为该过程是按预计的要求进行，即处于统计控制状态(受控状态)。

    • A、没有出现越出控制界限的点子
    • B、没有出现越出控制界限的点子，也未出现点子排列缺陷
    • C、样本点在控制界限内，连续9点落在中心线同一侧(均值控制图)
    • D、样本点在控制界限内，连续15点落在中心线两侧的C区内(均值控制图)

    正确答案:B

  • 第10题：

    多选题
    控制图上点出界，则表明（　　）。[2007年真题]
    A

    过程处于技术控制状态

    B

    过程可能存在异常因素

    C

    小概率事件发生

    D

    过程稳定性较好

    E

    过程未处于统计控制状态


    正确答案： B,E
    解析： 控制图的判异准则有两类:①点出界就判异；②界内点排列不随机判异。控制图上点出界表明小概率事件发生，则过程出现异常，即过程未处于统计控制状态。

  • 第11题：

    单选题
    以下关于过程统计控制状态，说法不正确的是（）
    A

    过程中没有异常因素影响，则说过程处于过程统计控制状态

    B

    过程统计控制状态的好处是可预测下一时间的过程波动

    C

    过程处于过程统计控制状态，则说明过程的产品处于规格限内

    D

    过程统计控制状态是进行过程能力分析的前提条件


    正确答案： D
    解析： 暂无解析

  • 第12题：

    单选题
    控制图上显示有连续8点在中心线两侧，但无一在C区，造成这种现象的可能原因是（　　）。
    A

    过程均值增大

    B

    过程均值减少

    C

    工具逐渐磨损

    D

    数据来自两个不同的总体


    正确答案： A
    解析：
    根据准则8，连续8点在中心线两侧，但无一在C区中，造成这种现象的主要原因是数据分层不够。

  • 第13题：

    关于处于统计控制状态的过程的说法，正确的有（ ）。

    A.处于统计控制状态的过程将连续生产出满足规定要求的产品

    B.处于统计控制状态的过程的过程能力指数Cp大于或等于１

    C.控制图上没有点子落在控制限外且界内点随机排列时，可判定过程处于统计控制状态

    D.处于统计控制状态的过程中只有偶因而无异因产生的波动

    E.处于统计控制状态的过程的性能是可预测的


    正确答案：CDE
    过程处于统计控制状态时，过程能力有可能不满足要求，所以选项A、B错误。

  • 第14题：

    在均值图上描点，应使用（ ）打点。
    A.每个产品的特性值 B.每个子组的均值
    C.每个子组的极差 D.每个子组的移动极差


    答案：B
    解析：

  • 第15题：

    关于统计控制状态与失控状态的说法，正确的有（ ）。
    A.当过程中既有偶然因素也有异常因素的影响时，过程处于统计控制状态
    B.当过程中只有偶然因素而没有异常因素的影响时，过程处于统计控制状态
    C.在统计控制状态下，过程的波动达到最小，不可能再改进
    D.过程处于失控状态时，无法估计过程能力
    E.当控制图上所有点子都落在控制限内时，可以判定过程处于统计控制状态


    答案：B,D
    解析：
    。选项E错误，当控制图上所有点子都落在控制限内，且随机排列时，才可以判定过程处于统计控制状态。

  • 第16题：

    企业欲用控制图对某零件的生产过程进行监控，需要进行的工作主要有：
    在均值图上应使用（ ）打点。
    A.每个产品的测量值 B.子组均值
    C.子组标准差 D.子组极差


    答案：B
    解析：
    均值图主要用于观察正态分布的均值的变化，极差图用于观察正态分布的分散或变异情况的变化。因此均值图上应使用子组均值打点。

  • 第17题：

    均值控制图显示最近有连续9个点落在中心线的同一侧，但均在控制限内，这说明（ ）。
    A.过程失控，过程中心出现系统偏移，应查找原因，及时纠正
    B.过程输出呈现趋势性变化，应重新计算控制界限
    C.样本点均在控制限内，过程处于统计控制状态
    D.过程受控，不会影响Cp和Cpk


    答案：A
    解析：

  • 第18题：

    汽车配件公司对轴的直径进行统计过程控制，每隔1小时抽取一个子组，每组包含5件产品，连续抽取了20组。
    控制图上显示有连续8点在中心线两侧，但无一在C区，造成这种现象的可能原因是( )。
    A.过程均值增大 B.过程均值减少
    C.工具逐渐磨损 D.数据来自两个不同的总体


    答案：D
    解析：
    根据准则8，连续8点在中心线两侧，但无一在C区中，造成这种现象的主要原因是数据分层不够。

  • 第19题：

    控制图上点出界，则表明（ ）。[2007年真题]
    A.过程处于技术控制状态 B.过程可能存在异常因素
    C.小概率事件发生 D.过程稳定性较好
    E.过程未处于统计控制状态


    答案：B,C,E
    解析：
    控制图的判异准则有两类：①点出界就判异；②界内点排列不随机判异。控制图上点出界表明小概率事件发生，则过程出现异常，即过程未处于统计控制状态。

  • 第20题：

    某过程采用均值—极差控制图进行过程控制，在均值控制图上，发现连续15个点均在控制中线上下一个标准差范围内，出现这种情况的最可能的原因是：（）

    • A、过程均值变小了
    • B、过程方差变小了
    • C、过程均值变大了
    • D、过程方差变大了

    正确答案:B

  • 第21题：

    单选题
    某过程采用均值—极差控制图进行过程控制，在均值控制图上，发现连续15个点均在控制中线上下一个标准差范围内，出现这种情况的最可能的原因是：（）
    A

    过程均值变小了

    B

    过程方差变小了

    C

    过程均值变大了

    D

    过程方差变大了


    正确答案： D
    解析： 暂无解析

  • 第22题：

    多选题
    若过程处于统计控制状态，则控制图上出现（　　）是小概率事件。
    A

    点子落在控制限外

    B

    点子在中心线上下随机散布

    C

    连续9点落在中心线的同一侧

    D

    连续7点递增


    正确答案： D,C
    解析：
    如过程处于稳态，则点子落在控制限外以及非随机排列出现是小概率事件。CD两项属于非随机排列情形。

  • 第23题：

    单选题
    加工一种轴承，其规格为10±0.08mm。要求Cpk≥1。收集25组数据绘制分析用控制图，未显示异常。计算得到： μ=10.04mm，σ=0.02mm 根据以上材料，回答：下列论述正确的是（）。
    A

    过程处于统计控制状态和技术控制状态

    B

    过程处于统计控制状态，未处于技术控制状态

    C

    过程未处于统计控制状态，处于技术控制状态

    D

    过程未处于统计控制状态和技术控制状态


    正确答案： C
    解析： 暂无解析

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