控制用均值控制图上最后的9个点子如下图所示，正确的有（ ）。A.过程未处于统计控制状态B.过程的均值有减小的趋势C.过程的标准差有增大的趋势D.过程的不合格品率肯定会减小E.过程偏离分布中心的程度减小

题目

控制用均值控制图上最后的9个点子如下图所示，正确的有（ ）。

A.过程未处于统计控制状态

B.过程的均值有减小的趋势

C.过程的标准差有增大的趋势

D.过程的不合格品率肯定会减小

E.过程偏离分布中心的程度减小

相似考题

1.当产品质量特性值分布的均值与公差中心不重合时( )。A．不合格品率增大，过程能力指数不变B．不合格品率增大，过程能力指数增大C．不合格品率增大，过程能力指数减小D．不合格品率不变，过程能力指数减小

2.分析用控制图主要分析内容有( )。A．该过程的不合格品率B．该过程的能力指数是否符合规定要求(也称技术稳态)C．所分析的过程是否处于统计控制状态(也称统计稳态)D．所分析的过程是否满足顾客要求E．分析过程的合格品率

3.当产品质量特性值分布的均值与公差中心重合时,( )。 A.过程能力指数增大,不合格品率减小当产品质量特性值分布的均值与公差中心重合时，（ ）。A.过程能力指数增大，不合格品率减小B.过程能力指数增大，不合格品率增大C.过程能力指数减小，不合格品率增大D.不合格品率不变，过程能力指数减小

4.当产品质量特性值分布的均值与公差中心不重合时,( )。A.不合格品率增大,过程能力指数不变SXB当产品质量特性值分布的均值与公差中心不重合时，（ ）。A.不合格品率增大，过程能力指数不变B.不合格品率增大，过程能力指数增大C.不合格品率增大，过程能力指数减小D.不合格品率不变，过程能力指数减小

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  • 第1题：

    在过程控制中，提高产品合格率的措施有（ ）。

    A.减小分布中心与公差中心的偏离

    B.扩大控制限范围

    C.提高过程能力

    D.尽量减小特性值的波动程度

    E.减少检验次数


    正确答案：ACD
    ACD。

  • 第2题：

    当产品质量特性值分布的均值与公差中心重合时，（ ）。

    A.过程能力指数增大，不合格品率减小

    B.过程能力指数增大，不合格品率增大

    C.过程能力指数减小，不合格品率增大

    D.不合格品率不变，过程能力指数减小


    正确答案：A
    在此状态下，过程是无偏移的正态分布，故在此时，不合格品率减小，过程能力指数增大。

  • 第3题：

    对于一个稳定的服从正态分布的生产过程，计算出它的过程能力指数Cp=1.65，Cpk=0.92。这时对生产过程作出的以下判断中正确的有( )。

    A．生产过程的均值偏离公差中心太远，且过程的标准差太大

    B．生产过程的均值偏离公差中心太远，过程的标准差尚可

    C．生产过程的均值偏离公差中心尚可，但过程的标准差太大

    D．对于生产过程的均值偏离公差中心情况及过程的标准差都不能作出判断


    正确答案：B
    解析：无偏移情况的Cp表示过程加工的一致性，即“质量能力”，Cp越大，则质量能力越强；Cp=1.65时，过程能力充分，技术管理能力很好，过程标准差尚可；有偏移情况的Cpk反映过程中心μ与公差中心M的偏移情况，Cpk越大，则二者偏离越小。

  • 第4题：

    关于技术控制状态和统计控制状态的说法，正确的有（ ）。

    A.没有达到技术控制状态则没有达到统计控制状态

    B.分析用控制图上的点子在控制限内随机排列，则过程达到统计控制状态

    C.处于统计控制状态的过程一定处于技术控制状态

    D.没达到统计控制状态的过程不能计算过程能力指数c，

    E.处于统计控制状态的过程可能并未达到技术控制状态


    正确答案：BDE
    BDE。

  • 第5题：

    可用于分析过程标准差ó波动的控制图有( )控制图。。A.均值B.单值C.极差SXB

    可用于分析过程标准差ó波动的控制图有（ ）控制图。。

    A.均值

    B.单值

    C.极差

    D.标准差

    E.移动极差


    正确答案：CDE
    CDE。

  • 第6题：

    关于统计控制状态与失控状态的说法，正确的有（ ）。
    A.当过程中既有偶然因素也有异常因素的影响时，过程处于统计控制状态
    B.当过程中只有偶然因素而没有异常因素的影响时，过程处于统计控制状态
    C.在统计控制状态下，过程的波动达到最小，不可能再改进
    D.过程处于失控状态时，无法估计过程能力
    E.当控制图上所有点子都落在控制限内时，可以判定过程处于统计控制状态


    答案：B,D
    解析：
    。选项E错误，当控制图上所有点子都落在控制限内，且随机排列时，才可以判定过程处于统计控制状态。

  • 第7题：

    分析用控制图主要分析内容有（ ）。A.该过程的不合格品率
    B.该过程的能力指数是否满足要求（也称技术稳态）
    C.所分析的过程是否处于统计控制状态（也称统计稳态）
    D.所分析的过程是否满足顾客要求
    E.分析过程的合格品率


    答案：B,C
    解析：
    分析用控制图主要分析两方面的内容：①所分析的过程是否处于统计控制状态；②该过程的过程能力指数是否满足要求。维尔达把过程能力指数满足要求的状态称作技术稳态。

  • 第8题：

    关于技术控制状态和统计控制状态的说法，正确的有（ ）。
    A.没有达到技术控制状态则没有达到统计控制状态
    B.分析用控制图上的点子在控制限内随机排列，则过程达到统计控制状态
    C.处于统计控制状态的过程一定处于技术控制状态
    D.没达到统计控制状态的过程不能计算过程能力指数Cp
    E.处于统计控制状态的过程可能并未达到技术控制状态


    答案：B,D,E
    解析：

  • 第9题：

    在过程控制中，提高产品合格率的措施有（）。

    • A、减小分布中心与公差中心的偏离
    • B、扩大控制限范围
    • C、提高过程能力
    • D、尽量减小特性值的波动情况

    正确答案:A,C,D

  • 第10题：

    当产品质量特性值分布的均值与公差中心重合时，（）。

    • A、过程能力指数增大，不合格品率减小
    • B、过程能力指数增大，不合格品率增大
    • C、过程能力指数减小，不合格品率增大
    • D、不合格品率不变，过程能力指数减小

    正确答案:A

  • 第11题：

    单选题
    当产品质量特性值分布的均值与公差中心不重合时，（）。
    A

    不合格品率增大，过程能力指数不变

    B

    不合格品率增大，过程能力指数增大

    C

    不合格品率增大，过程能力指数减小

    D

    不合格品率不变，过程能力指数减小


    正确答案： A
    解析： 暂无解析

  • 第12题：

    单选题
    当产品质量特性值分布的均值与公差中心重合时，(　　)。
    A

    过程能力指数增大，不合格品率减小

    B

    过程能力指数增大，不合格品率增大

    C

    过程能力指数减小，不合格品率增大

    D

    不合格品率不变，过程能力指数减小


    正确答案： A
    解析： 暂无解析

  • 第13题：

    均值－极差控制图上有中心线CL、上控制界限UCL和下控制LCL,其中,均值控制图的上、下控制界限可以用来判断()

    A.过程是否稳定

    B.过程中心与规格中心是否发生偏移

    C.与规格要求对比，判断过程能力是否充分

    D.是否有不合格品产生


    参考答案：A

  • 第14题：

    使用控制用均值一极差控制图监控过程时，若根据某子组数据计算的样本点落在控制限外，则（ ）。

    A.需要重新计算控制限

    B.该子组中一定有不合格品

    C.可判定过程处于统计失控状态

    D.不能拒绝过程处于统计控制状态这个假设、


    正确答案：C
    点子出界即判异。

  • 第15题：

    控制用控制图上的点子均在控制限内，只是最后连续l5点落在中心线两侧的C区内，此时正确的处理是（ ）。

    A.判断为过程异常，调查原因

    B.无界外点，判断过程处于统计控制状态

    C.需要采集更多的样本确认过程是否真的发生变化

    D.尚未出现不合格品，可以继续监控


    正确答案：A
    A。

  • 第16题：

    关于统计控制状态的谫法，正确的有（ ）。

    A.判定过程处于统计控制状态时，控制图上的点子均在控制限内

    B.判定过程处于统计控制状态时，控制图上的点子在中心线上下随机分布

    C.统计控制状态是指过程只有偶然因素的状态

    D.统计控制状态是指过程能力充足的状态

    E.统计控制状态是指过程既有偶然因素又有异常因素的状态


    正确答案：ABC
    统计控制状态下的过程并不一定过程能力充足。

  • 第17题：

    关于处于统计控制状态的过程的说法，正确的有（ ）。

    A.处于统计控制状态的过程将连续生产出满足规定要求的产品

    B.处于统计控制状态的过程的过程能力指数Cp大于或等于１

    C.控制图上没有点子落在控制限外且界内点随机排列时，可判定过程处于统计控制状态

    D.处于统计控制状态的过程中只有偶因而无异因产生的波动

    E.处于统计控制状态的过程的性能是可预测的


    正确答案：CDE
    过程处于统计控制状态时，过程能力有可能不满足要求，所以选项A、B错误。

  • 第18题：

    关于过程状态的说法，正确的有（ ）。

    A.在统计控制状态下，可以预测过程波动的大小

    B.当过程处于失控状态时，过程的分布将发生改变

    C.过程处于统计控制状态时，CP≥1

    D.异常因素会导致过程失控

    E.当控制图上所有点子都落在控制限内时，可以判断过程一定处于统计控制状态


    答案：A,B,D
    解析：
    。处于统计控制状态，只是表明此时可估计过程保证质量的水平，但不能说明过程能力指数大于等于1。选项E错误，当控制图上所有点子都落在控制限内时，且随机排列时，才可以判定过程处于统计控制状态。

  • 第19题：



    A.过程能力不足 B.应改进过程

    C应减小过程输出特性的标准差 D.过程未处于统计控制状态

    E.应减小过程中心和技术中心的偏移量


    答案：A,B,C
    解析：

  • 第20题：

    控制用控制图上的点子均在控制限内，只是最后连续15点落在中心线两侧的C 区内，此时正确的处理是( )。
    A.判断为过程异常，调查原因
    B.无界外点，判断过程处于统计控制状态
    C.需要采集更多的样本确认过程是否真的发生变化
    D.尚未出现不合格品，可以继续监控


    答案：A
    解析：

  • 第21题：

    当产品质量特性值分布的均值与公差中心不重合时，（）。

    • A、不合格品率增大，过程能力指数不变
    • B、不合格品率增大，过程能力指数增大
    • C、不合格品率增大，过程能力指数减小
    • D、不合格品率不变，过程能力指数减小

    正确答案:C

  • 第22题：

    多选题
    在过程控制中，提高产品合格率的措施有（）。
    A

    减小分布中心与公差中心的偏离

    B

    扩大控制限范围

    C

    提高过程能力

    D

    尽量减小特性值的波动情况


    正确答案： D,C
    解析： 暂无解析

  • 第23题：

    单选题
    当产品质量特性值分布的均值与公差中心不重合时，(　　)。
    A

    不合格品率增大，过程能力指数不变

    B

    不合格品率增大，过程能力指数增炎

    C

    不合格品率增大，过程能力指数减小      

    D

    不合格品率不变，过程能力指数减小


    正确答案： C
    解析： 当产品质量特性值分布的均值与公差中心不重合时，不合格品率增大，过程能力指数减小。故选择C。

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