X射线荧光光谱法中，当试样的有效照射面积缩小时，元素的X射线荧光强度（）。A、增大B、减小C、不变D、无变化
题目
X射线荧光光谱法中，当试样的有效照射面积缩小时，元素的X射线荧光强度（）。
- A、增大
- B、减小
- C、不变
- D、无变化
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第1题：
波长色散X荧光光谱仪中用于探测重元素X射线荧光是（）计数器，用于探测轻元素X射线荧光是（）正比计数器，封闭式正比计数器是用于探测限定的几个元素的X射线荧光。
- A、闪烁
- B、半导体
- C、流气式
- D、光电倍增管
正确答案:A,C -
第2题：
在X射线荧光光谱法中的基体和基体效应
正确答案: 基体是指样品中除分析元素外的其它组成元素，由于分析元素的受到样品内其它元素的影响，发生强度减弱或增强，从而破坏X射线荧光的强度与浓度的线性关系，这种影响称为基体效应。 -
第3题：
在X射线实时成像中，射线照射工件传到荧光屏上所产生的显示与射线强度有关，而与曝光时间无关。
正确答案:正确 -
第4题：
X射线荧光光谱法的分析过程包括以下几个步骤，即（）、（）、（），对分光后的各单色X射线荧光进行检测、记录，根据记录数据得出定性、定量分析结果。
正确答案:样品制备；激发X射线荧光；X射线荧光的分光 -
第5题：
X射线荧光光谱法分析线的强度与分析面的磨纹方向有关，因此，在测量时采取转动试样的方法，以减少误差。
正确答案:正确 -
第6题：
在x射线荧光分析法中，由x射线管直接产生的x射线是（）。
- A、一次X射线
- B、二次X射线
- C、次级射线
- D、X荧光
正确答案:A -
第7题：
X射线荧光光谱法是对元素的（）进行分析。
- A、特征光谱
- B、带状光谱
- C、连续光谱
正确答案:A -
第8题：
X射线荧光光谱仪中的第一准直器设置在试样与（）之间。
- A、X射线管
- B、晶体
- C、探测器
正确答案:B -
第9题：
在X射线荧光分析法中，X荧光是指（）。
- A、一次X射线
- B、二次X射线
- C、由X射线管直接产生的X射线
- D、由高速电子流产生的X射线
正确答案:B -
第10题：
X射线荧光光谱内标法，即把一定量的内标元素加入到标准试料及分析试料中，以标准试料中分析元素与内标元素的X射线荧光强度比与分析元素含量绘制校准曲线。测定分析试料的分析元素与内标元素的X射线荧光强度比，从校准曲线求得分析元素含量。
正确答案:正确 -
第11题：
在X射线实时成像中，射线照射工件传到荧光屏上所产生的显示与射线强度有关，而与（）无关。
正确答案:曝光时间 -
第12题：
多选题高能X射线照射到物质上以后，一般会出现以下哪几种X射线（）A荧光X射线
B散射X射线
C衍射X射线
D透过X射线
正确答案： A,C解析： 暂无解析 -
第13题：
X射线荧光分析时基体效应的基体，是指分析时试样中除（）元素本身外其它所有的元素。
- A、气体
- B、惰性
- C、分析
- D、氧化性
正确答案:C -
第14题：
X射线荧光光谱法可以分析所有的元素。
正确答案:错误 -
第15题：
高能X射线照射到物质上以后，一般会出现以下哪几种X射线（）
- A、荧光X射线
- B、散射X射线
- C、衍射X射线
- D、透过X射线
正确答案:A,B,D -
第16题：
X射线荧光光谱法是基于原子内层电子能级跃迁的光谱法。
正确答案:正确 -
第17题：
X射线荧光光谱法中，分析微量Al的样品不能用（）磨料抛光。
正确答案:刚玉 -
第18题：
由X射线管发出的一次X射线激发样品，使样品所含元素辐射出二次X射线，即X射线（）。
- A、光子
- B、荧光
- C、光谱
- D、线束
正确答案:B -
第19题：
X射线荧光分析理想试样应满足条件是什么？
正确答案: （1）有足够的代表性；
（2）试样均匀；
（3）表面平整、光洁、无裂纹；
（4）试样有足够的厚度；
（5）在X射线照射及真空条件下，试样稳定不变形，不起化学变化。 -
第20题：
X射线荧光的波长轻元素的波长较短，重元素的波长较长。
正确答案:错误 -
第21题：
试样受X射线照射后，其中各元素原子的（）被激发逐出原子而引起壳层电子跃迁，并发射出该元素的特征X射线称为二次X射线，或称为X射线荧光。
- A、外层电子
- B、内层电子
- C、原子
- D、高能电子
正确答案:B -
第22题：
X射线荧光光谱法中，处理粉末样品的方法主要有压片法和（）
正确答案:熔融法 -
第23题：
判断题在X射线荧光分析中，元素的原子序数越大，产生的X射线荧光波长越小。A对
B错
正确答案： 对解析： 暂无解析