探头的晶片尺寸增加对探头的（）有不利影响。A、 声束的指向性B、 近场区长度C、 远距离缺陷检出能力D、 以上都是
题目
探头的晶片尺寸增加对探头的（）有不利影响。
- A、 声束的指向性
- B、 近场区长度
- C、 远距离缺陷检出能力
- D、 以上都是
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第1题：
选择超声探头频率的原则是什么？怎样选择超声检测探头的晶片尺寸？
正确答案: 1）频率的高低对检测有很大的影响，频率高，灵敏度和分辨率高，指向性好，对检测有利。但频率高，近场区长度大，衰减大，又对检测不利，实际检测中要全面分析考虑各方面的因素，合理选择频率，一般在保证检测灵敏度的前提下尽可能选用较低的频率。
2）晶片尺寸大，发射能量大，扩散角小，远距离探测灵敏度高，适用于大型工件检测；晶片尺寸小，近距离范围声束窄，有利于缺陷定位；对凹凸度大曲率半径小的工件，宜采用尺寸较小的探头。 -
第2题：
怎样选择超声检测探头的晶片尺寸？
正确答案: （1）晶片尺寸大，发射能量大，扩散角小，远距离探测灵敏度高，适用于大型工件检测：
（2）晶片尺寸小，近距离范围声束窄，有利于缺陷定位；
（3）对凹凸度大曲率半径小的工件，宜采用尺寸较小的探头。 -
第3题：
探头晶片尺寸大时，近场的覆盖范围也大，晶片小时，近场的覆盖范围也小。但在远场处由于指向性的关系，大尺寸晶片的覆盖范围有可能小于尺寸晶片。
正确答案:正确 -
第4题：
探头型号的编制项目不包括（）。
- A、基本频率
- B、晶片尺寸
- C、探头线种类
- D、压电材料
正确答案:C -
第5题：
探头晶片尺寸增加，对探伤有哪些不利因素？
正确答案: 探头晶片尺寸增加，近场区长度增加，对探伤不利。 -
第6题：
探头晶片尺寸选择应考虑哪些因素？横波斜探头Ｋ值如何选择？
正确答案: （1）探头晶片尺寸的选择应考虑：①晶片尺寸增加，半扩散角减少，波束指向性变好，超声波能量集中，对探伤有利；②晶片尺寸增加，近场区长度增加，对探伤不利；③晶片尺寸大，辐射的超声波能量大，发现远距离缺陷能力增强。（2）在横波探伤中，探头Ｋ值对探伤灵敏度、声束轴线的方向、一次波的声程（入射点至底面反射点的距离）有较大的影响。按照尽可能声束与缺陷垂直的原则，选择探头主要考虑所测试件的结构和厚度。一般工件厚度较小时，选用较大的Ｋ值，以便增加一次波的声程，避免近场区探伤。当工件厚度较大时，选用小Ｋ值，以减少声程过大引起的衰减，便于发现远区缺陷。 -
第7题：
在超声波探伤中由于探头影响反射波高度的因素有（）
- A、探头型式
- B、晶片尺寸
- C、波束方向
- D、上述都有
正确答案:D -
第8题：
问答题大尺寸探头晶片的优点有哪些？正确答案： 辐射的超声波能量大，探头未扩散区扫查范围大，远距离扫查范围相对变小，发现远距离缺陷能力增强。解析： 暂无解析 -
第9题：
单选题在超声波探伤中由于探头影响反射波高度的因素有（）A探头型式
B晶片尺寸
C波束方向
D上述都有
正确答案： A解析： 暂无解析 -
第10题：
填空题探头晶片尺寸（），近场区长度增加，对近表面的缺陷探测不利。正确答案： 增大解析： 暂无解析 -
第11题：
问答题探头晶片尺寸增加，对探伤有哪些有利因素？正确答案： 探头晶片尺寸增加，半扩散角减少，波束指向性变好，超声波能量集中，对探伤有利。解析： 暂无解析 -
第12题：
判断题同频率的探头其扩散角与探头晶片尺寸成反比，近场区长度与晶片面积成正比。A对
B错
正确答案： 对解析： 暂无解析 -
第13题：
探头的选择包括探头的型式、频率、晶片尺寸、灵敏度余量和斜探头K值等。
正确答案:正确 -
第14题：
探头的选择包括探头的型式、频率 、晶片尺寸和斜探头K值等
正确答案:正确 -
第15题：
探头晶片尺寸（），近场区长度增加，对近表面的缺陷探测不利。
正确答案:增大 -
第16题：
大尺寸探头晶片的优点有哪些？
正确答案: 辐射的超声波能量大，探头未扩散区扫查范围大，远距离扫查范围相对变小，发现远距离缺陷能力增强。 -
第17题：
在实际检测中如何选择探头的晶片尺寸？
正确答案: 探头晶片尺寸的大小对缺陷的检出能力影响很大，晶片尺寸大，缺陷检出灵敏度高、指向性好，反之越底。在检测厚度大的工件时，为了有效地发现远距离的缺陷宜选用大晶片探头；在检测厚度较小、表面粗糙、曲率较大或小型工件时，为了提高缺陷的定位、定量精度和减少耦合损失宜选用小晶片尺寸的探头，这样可有效地发现被检工件中的各类缺陷。 -
第18题：
探头晶片尺寸增加，近场区长度增加，对探伤不利。
正确答案:正确 -
第19题：
判断题探头的选择包括探头的型式、频率、晶片尺寸、灵敏度余量和斜探头K值等。A对
B错
正确答案： 错解析： 暂无解析 -
第20题：
单选题探头的晶片尺寸增加对探头的（）有不利影响。A声束的指向性
B近场区长度
C远距离缺陷检出能力
D以上都是
正确答案： C解析： 暂无解析 -
第21题：
问答题探头晶片尺寸增加，对探伤有哪些不利因素？正确答案： 探头晶片尺寸增加，近场区长度增加，对探伤不利。解析： 暂无解析 -
第22题：
问答题探头晶片尺寸选择应考虑哪些因素？横波斜探头Ｋ值如何选择？正确答案： （1）探头晶片尺寸的选择应考虑：①晶片尺寸增加，半扩散角减少，波束指向性变好，超声波能量集中，对探伤有利；②晶片尺寸增加，近场区长度增加，对探伤不利；③晶片尺寸大，辐射的超声波能量大，发现远距离缺陷能力增强。（2）在横波探伤中，探头Ｋ值对探伤灵敏度、声束轴线的方向、一次波的声程（入射点至底面反射点的距离）有较大的影响。按照尽可能声束与缺陷垂直的原则，选择探头主要考虑所测试件的结构和厚度。一般工件厚度较小时，选用较大的Ｋ值，以便增加一次波的声程，避免近场区探伤。当工件厚度较大时，选用小Ｋ值，以减少声程过大引起的衰减，便于发现远区缺陷。解析： 暂无解析 -
第23题：
单选题探头晶片尺寸（），近场区长度增加，对近表面探伤不利。A增加
B减小
C不变
正确答案： A解析： 暂无解析