在芯片生产车间,每天抽8块芯片检查其暇疵点个数。为了监测暇疵点数,对于控制图的选用,下列正确的是:()A.使用C控制图最方便B.也可以使用U控制图,效果和C控制图相同,但不如C控制图方便C.也可以使用p控制图,效果和C控制图相同,但不如C控制图方便D.使用np控制图,效果和C控制图相同

题目
在芯片生产车间,每天抽8块芯片检查其暇疵点个数。为了监测暇疵点数,对于控制图的选用,下列正确的是:()

A.使用C控制图最方便

B.也可以使用U控制图,效果和C控制图相同,但不如C控制图方便

C.也可以使用p控制图,效果和C控制图相同,但不如C控制图方便

D.使用np控制图,效果和C控制图相同


相似考题
参考答案和解析
答案:AB
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  • 第1题:

    常规计数控制图包括( )。

    A.np控制图

    B.P控制图

    C.

    D.C控制图

    E.U控制图


    正确答案:ABDE

  • 第2题:

    当所控制对象只有不合格品时,可以采用( )。
    A. 控制图 B.np控制图 C. c控制图 D. u控制图
    E. R控制图


    答案:B,C,D
    解析:
    A项,控制图主要用于观察正态分布的均值的变化;E项,R控制图用于观察正态分布的分散或变异情况的变化,这两个图的控制对象均为计量数据。

  • 第3题:

    对于计量数据而言,最常用最基本的控制图是( )。
    A. -R图控制图 B. -s控制图
    C. p控制图 D. u控制图


    答案:A
    解析:
    对于计量数据而言,-R控制图是最常用最基本的控制图。它用于控制对象为长度、重量、强度、纯度、时间、收率和生产量等计量值的场合。

  • 第4题:

    -s控制图与-R控制图的适用范围基本相同,但当( )时不应选用-R控制图而只能选用控制图。
    A. n>10 B. n≥10 C. n


    答案:A
    解析:
    -s控制图与-R图相似,只是用标准差s图代替极差R图而已。当样本量n>10时,应用极差估计总体标准差σ的效率减低,需要应用s图来代替R图。

  • 第5题:

    常规计数值控制图包括( )。
    A.np控制图 B. p控制图 C.-R控制图 D. c控制图
    E. u控制图


    答案:A,B,E
    解析:
    常规计数值控制图主要有:①计件值控制图,服从二项分布,如P控制图、np控制图;②计点值控制图,服从泊松分布,如c控制图、u控制图。

  • 第6题:

    利用控制图控制铸件的砂眼数,每次抽取的子组大小相同,可使用的控制图有( )图。

    A. p B. c
    C. u D. X-Rs
    E. np


    答案:B,C
    解析:

  • 第7题:

    在利用控制图对总质量和分质量进行度量时,分质量是应用选控图进行度量。


    正确答案:错误

  • 第8题:

    在芯片生产车间,每天抽8块芯片检查其暇疵点个数。为了监测暇疵点数,对于控制图的选用,下列正确的是()

    • A、使用C控制图最方便
    • B、也可以使用U控制图,效果和C控制图相同,但不如C控制图方便
    • C、也可以使用p控制图,效果和C控制图相同,但不如C控制图方便
    • D、使用np控制图,效果和C控制图相同

    正确答案:A,B

  • 第9题:

    项目小组每隔两小时收集4件B型车门,准备监控B型车门喷涂瑕疵数,且已知4件产品上的缺陷平均数在5个以上,他们可以考虑使用以下哪种控制图()?

    • A、U控制图计点离散系数
    • B、NP控制图
    • C、C控制图
    • D、P控制图

    正确答案:A,C

  • 第10题:

    休哈特控制图和单因素选控图在生产过程中联合使用时,休哈特控制图告警,选控图未告警。说明()。

    • A、欲控系统因素发生发生
    • B、非控系统因素发生发生
    • C、其它因素发生

    正确答案:B

  • 第11题:

    单选题
    某产品对外观质量的要求,如有划痕,则每个划痕都被认为是缺陷,每天检查的产品数量不全相同。如果控制的重点是划痕,则对于控制图的选用,下列正确的是()。
    A

    使用c控制图

    B

    使用u控制图

    C

    使用P控制图

    D

    使用np控制图


    正确答案: C
    解析: 属于计点型数据,由于样本量不是常数,因此应当选择使用“控制图。正确答案选B。

  • 第12题:

    多选题
    在芯片生产车间,每天抽8块芯片检查其暇疵点个数。为了监测暇疵点数,对于控制图的选用,下列正确的是()
    A

    使用C控制图最方便

    B

    也可以使用U控制图,效果和C控制图相同,但不如C控制图方便

    C

    也可以使用p控制图,效果和C控制图相同,但不如C控制图方便

    D

    使用np控制图,效果和C控制图相同


    正确答案: C,A
    解析: 暂无解析

  • 第13题:

    当所控制对象只有不合格品时,可以采用( )。

    A.控制图

    B.np控制图

    C.c控制图

    D.u控制图

    E.R控制图


    正确答案:BCD
    解析:控制图主要用于观察正态分布的均值的变化;及控制图用于观察正态分布的分散或变异情况的变化,这两个图的控制对象均为计量数据。

  • 第14题:

    在药片压制工序中,需要控制药片的重量,可采用( )。A. p控制图 B.np控制图 C. -s控制图 D. -R控制图
    E. c控制图


    答案:C,D
    解析:
    对于计量数据而言,-R控制图是最常用最基本的控制图。它用于控制对象为长度、重量、强度、纯度、时间收率和生产量等计量值的场合;-s控制图与-R图相似,只是用标准差s图代替极差R图而已。药片的重量是计量值控制对象。ABE三项控制图属于计数值控制图。

  • 第15题:

    下列选择适宜控制图进行过程监控的做法中,正确的有( )。
    A.对于产品质量稳定、均匀的过程可以选用单值图
    B.计量控制图的检出力高于计数控制图
    C.计量控制图与计数控制图具有相同的控制时效性
    D.使用X-R图时样本量(子组大小)宜取4或5
    E.使用p图和u图时样本量(子组大小)必须为常数


    答案:A,B,D
    解析:
    。计量控制图的检出力高于计数控制图,因此计量控制图的控制时效性好于计数控制图,故选项C错误。使用p图和u图时样本量 (子组大小)不必固定,故选项E错误。

  • 第16题:

    生产过程中要控制每个铸件上的砂眼数,可选用的控制图是( )。
    A. X—R 控制图 B.p控制图
    C.u控制图 D.控制图


    答案:C
    解析:
    。砂眼数服从泊松分布。

  • 第17题:

    利用计量值控制图对生产过程进行监控,如果子组大小为15,则最宜使用的控 制图应为()图。

    A. X-Rs B. X-R
    C. X-s D. Me-R


    答案:C
    解析:
    。n>10时,极差图对标准差的估计不太准确。

  • 第18题:

    某产品对外观质量的要求,如有划痕,则每个划痕都被认为是缺陷,每天检查的产品数量不全相同。如果控制的重点是划痕,则对于控制图的选用,下列正确的是()。

    • A、使用c控制图
    • B、使用u控制图
    • C、使用P控制图
    • D、使用np控制图

    正确答案:B

  • 第19题:

    用修复工具复制图像和使用图案工具复制图像产生的效果一样。


    正确答案:错误

  • 第20题:

    M车间负责生产磁芯,经5项检验后可以判定磁芯为“合格”或“不合格”。每天结束生产前抽取1000粒磁芯,记录当天不合格磁芯总数。这样坚持90天后,希望建立有效的控制图。正确的建议是:()

    • A、可以使用NP图,也可以使用P图,而NP图效果较好
    • B、可以使用NP图,也可以使用P图,而P图效果较好
    • C、可以使用NP图,也可以使用P图,二者效果相同
    • D、应将3天数据合并为一组,对这30组的比率数据建立X-R控制图,其效果比NP图和P图都好

    正确答案:B

  • 第21题:

    当所控制对象只有不合格品时,可以采用()

    • A、X控制图
    • B、np控制图
    • C、p控制图
    • D、c控制图
    • E、u控制图

    正确答案:B,D,E

  • 第22题:

    控制图上有三条线:CL是控制中心线,LCL是上控线,UCL是下控线。


    正确答案:错误

  • 第23题:

    单选题
    破损控制图通常应张贴在()。 ①驾驶台 ②货控室 ③艇甲板走廊
    A

    B

    ①③

    C

    ①②

    D

    ①②③


    正确答案: D
    解析: 暂无解析