关于Cp与Cpk的说法,正确的有( )。
A.只有在过程处于统计控制状态才能计算
B.Cp仅能用于双侧规范限的情况
C.Cpk可以反映过程中心的偏移
D.一般来说,Cpk不大于Cp
E.在过程能力分析时只考虑其中一个即可
第1题:
关于过程能力及过程能力指数的说法,正确的有( )。
A.过程能力的大小与公差无关
B.Cp等于公差除以3倍的过程质量特性标准差
C.Cp值越大,表明过程质量特性的离散程度越大
D.Cp与CpK的差反映了过程分布中心与规范中心的偏离程度
E.Cp=l时,99.73%的过程输出将在规范范围内
第2题:
关于统计控制状态,下列说法正确的有( )。
A.统计控制状态是指过程中只有偶因而无异因产生的变异的状态
B.控制状态是生产追求的目标,因为在控制状态下,对产品的质量有完全的把握
C.通常控制图的控制界限都在规范限之内,故至少有99.73%的产品是合格品
D.在控制状态下生产的不合格品最少,生产最经济
E.统计控制状态是指过程中只有异因无偶因产生的变异的状态
第3题:
第4题:
第5题:
第6题:
第7题:
第8题:
第9题:
以下关于过程统计控制状态,说法不正确的是()
第10题:
根据Cp不能估计缺陷率,根据Cpk才能估计缺陷率
根据Cp和Cpk都能估计缺陷率
缺陷率与Cp和Cpk无关
以上说法都不对
第11题:
过程处于统计控制状态和技术控制状态
过程处于统计控制状态,未处于技术控制状态
过程未处于统计控制状态,处于技术控制状态
过程未处于统计控制状态和技术控制状态
第12题:
SPC的目的和作用是统计OOC/OOS,CP和CPK等指数
SPC的目的和作用是通过监控OOC/OOS,计算CP和CPK等指数,帮助工艺和生产人员采取适当之措施,实现过程的持续改进
SPC的目的和作用是实现OOC/OOS报警,计算CP和CPK,让生产人员忙个不停
第13题:
关于统计控制状态的谫法,正确的有( )。
A.判定过程处于统计控制状态时,控制图上的点子均在控制限内
B.判定过程处于统计控制状态时,控制图上的点子在中心线上下随机分布
C.统计控制状态是指过程只有偶然因素的状态
D.统计控制状态是指过程能力充足的状态
E.统计控制状态是指过程既有偶然因素又有异常因素的状态
第14题:
关于处于统计控制状态的过程的说法,正确的有( )。
A.处于统计控制状态的过程将连续生产出满足规定要求的产品
B.处于统计控制状态的过程的过程能力指数Cp大于或等于1
C.控制图上没有点子落在控制限外且界内点随机排列时,可判定过程处于统计控制状态
D.处于统计控制状态的过程中只有偶因而无异因产生的波动
E.处于统计控制状态的过程的性能是可预测的
第15题:
第16题:
第17题:
第18题:
第19题:
第20题:
关于CP、CPK的说法,正确的是()
第21题:
对于正态分布的过程,有关Cp、Cpk和缺陷率的说法,正确的是()
第22题:
过程中没有异常因素影响,则说过程处于过程统计控制状态
过程统计控制状态的好处是可预测下一时间的过程波动
过程处于过程统计控制状态,则说明过程的产品处于规格限内
过程统计控制状态是进行过程能力分析的前提条件
第23题:
如果过程不处于受控状态,对Cp的计算没有意义
Cp=1.00时,要求过程准确地集中在容差分布范围的均值处
Cp=1.33时,生产所有单元处于规范限内的目标更容易实现
Cp=1.5时,为Cp的“安全”下限
Cp>1.5时,才能保证一个受控过程所生产的所有单元处于规范之内