Westgard质控处理规则的应用可以找出下列何种误差A.系统误差B.随机误差C.系统误差和随机误差D.偶然误差E.以上都不是

题目
Westgard质控处理规则的应用可以找出下列何种误差

A.系统误差

B.随机误差

C.系统误差和随机误差

D.偶然误差

E.以上都不是

相似考题

1.Westgard多规则质控图中，对系统误差敏感的是A、10B、13sC、22sD、41sE、R4s

2.关于Westgard多规则质控图，叙述错误的是A、Westgard多规则质控图是将多规则质控方案同Levey-Jennings质控图结合起来B、多规则质控方法的使用类似于Levey-Jennings质控图的使用，但是质控结果的解释更具有结构化C、Westgard质控图中以不同的颜色表示不同的控制限水平D、多规则质控方法的使用使假失控率增高，误差检出率增高，更易检出随机误差和系统误差，因此，临床应用日趋广泛E、常用的多规则质控方法包括12s、13s、22s、R4s、10等

3.下列图形中箭头所指的“点”违背哪条Westgard基本质控规则A.41sB.13sC.22sSX下列图形中箭头所指的“点”违背哪条Westgard基本质控规则A.41sB.13sC.22sD.R4sE.10Xbar

4.Westgard质控图与Levey-Jennings图的主要区别是前者A、可以区分系统误差和随机误差B、同时测定低值及高值两个质控品C、考虑了“多个”质控规则D、使用测定值的标准差做图E、以选定变异系数做图

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  • 第1题：

    下列图形中箭头所指的“点”违背哪条Westgard基本质控规则A.12sB.13sC.22sSX

    下列图形中箭头所指的“点”违背哪条Westgard基本质控规则

    A.12s

    B.13s

    C.22s

    D.R4s

    E.10Xbar


    正确答案：B
    在只有1个质控测定值时，Westgard推荐下列6个基本质控规则，其定义如下：①12s：一个质控测定值超过质控限，作为警告；②13s：一个质控测定值超过质控限，则判断为该分析批失控；③22s：当两个连续的质控测定值同时超过或，则判断为失控，这两个测定值可以来自同一个质控物，也可以是两个不同的质控物；④R4s：当同一批内高和低的质控测定值之间的差或极差超过4s时，则判断为失控；⑤41s：当4个连续的质控测定值同时超过或，则判断为失控；⑥10X：当10个连续的质控测定值落在平均值的同一侧，则判断为失控。

  • 第2题：

    下列哪项不是Westgard多规则质控方法的特点()

    A.12s是警告规则，并启动Westgard多规则误差检查程序

    B.13s是失控信号，提示存在较大的随机误差

    C.22s为失控信号，主要对系统误差敏感

    D.41s主要对系统误差敏感

    E.R4s和10X-主要对随机误差敏感


    正确答案：E

  • 第3题：

    A.系统误差
    B.随机误差
    C.系统误差和随机误差
    D.偶然误差
    E.以上都不是

    Westgard质控处理规则的应用可以找出的误差是

    答案：C
    解析：
    在相同条件下，对同一物理量进行多次测量，由于各种偶然因素，会出现测量值时而偏大、时而偏小的误差现象，这种类型的误差叫做偶然误差。在检测过程中最难控制的误差是偶然误差。West-gard质控处理规则的应用可以找出系统误差和随机误差。

  • 第4题：

    Westgard质控处理规则的应用可以找出的误差是

    A.系统误差

    B.随机误差

    C.系统误差和随机误差

    D.偶然误差

    E.以上都不是


    正确答案：C
    在相同条件下，对同一物理量进行多次测量，由于各种偶然因素，会出现测量值时而偏大、时而偏小的误差现象，这种类型的误差叫做偶然误差。在检测过程中最难控制的误差是偶然误差。Westgard质控处理规则的应用可以找出系统误差和随机误差。

  • 第5题：

    A.系统误差
    B.随机误差
    C.系统误差和随机误差
    D.偶然误差
    E.以上都不是

    Westgard质控处理规则的应用可以找出下列何种误差

    答案：C
    解析：
    在相同条件下，对同一物理量进行多次测量，由于各种偶然因素，会出现测量值时而偏大，时而偏小的误差现象，这种类型的误差叫做偶然误差。在检测过程中最难控制的误差是偶然误差。Westgard 质控处理规则的应用可以找出系统误差和随机误差。

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