在对残差序列进行自相关检验时,若计算的DW统计量为2,则表明残差序列() A、不存在一阶序列相关 B、存在一阶正序列相关 C、存在一阶负序列相关 D、存在高阶序列相关
A.A
B.B
C.C
D.D
第1题:
第2题:
第3题:
若回归模型的随机误差项存在一阶自回归形式的序列相关,则估计参数应采用()。
第4题:
在DW检验中,当DW统计量为2时,表明()。
第5题:
以下关于DW检验的说法,不正确的有()
第6题:
DW检验不适用于下列情况下的序列相关检验()
第7题:
在给定的显著性水平之下,若DW统计量的下、上临界值分别为dL和dU,则当dL〈DW〈dU时,可认为随机误差项()。
第8题:
针对存在序列相关现象的模型估计,下述哪些方法可能是适用的()。
第9题:
下列哪种方法不是检验序列相关的方法()
第10题:
要求样本容量较大
-1≤DW≤1
可用于检验高阶序列相关
能够判定所有情况
只适合一阶线性序列相关
第11题:
对
错
第12题:
不存在一阶序列相关
存在一阶正序列相关
存在一阶负序列相关
存在高阶序列相关
第13题:
第14题:
若回归模型中的随机误差项存在一阶自回归形式的序列相关,则估计模型参数应采用()。
第15题:
DW检验不适用一下列情况的序列相关检验()。
第16题:
对于自回归模型,检验是否存在序列相关的方法是()
第17题:
若计算的DW统计量为2,则表明该模型()
第18题:
在给定的显著性水平之下,若DW统计量的下和上临界值分别为dL和du,则当dL
第19题:
当DW=4时,说明()。
第20题:
消除序列相关的一阶差分变换假定自相关系数ρ等于1。
第21题:
随机误差项具有高阶序列相关
样本容量太小
含有滞后被解释变量的模型
正的一阶线性自相关形式
负的一阶线性自相关形式
第22题:
1
2
3
4
第23题:
普通最小二乘法
加权最小二乘法
广义差分法
工具变量法
第24题:
对
错