更多“用于测量上下颌骨前部的相互关系的头影测量分析法 ”相关问题
  • 第1题:

    X线头影测量是正畸治疗的一种辅助手段,因为它提供有关于下列哪些信息 a.上、下颌基骨与颅底的关系 b.上前牙与上颌基骨的关系 c.下前牙与下颌基骨的关系 d.上下颌前牙的相互关系 e.正畸治疗的进展

    A、只有abc

    B、abed

    C、ade

    D、bce

    E、以上均正确


    参考答案:E

  • 第2题:

    下面属于头影测量基准平面的是

    A、腭平面

    B、下颌平面

    C、全颅底平面

    D、前颅底平面

    E、下颌支平面


    参考答案:D

  • 第3题:

    在头影测量分析法中,Tweed分析法主要测量由眼耳平面、下颌平面与下中切牙长轴所组成的代表面部形态结构的颌面三角形的三个角,以提供矫治设计的依据及估计矫治的预后。


    眼耳平面-下颌平面角;下中切牙-眼耳平面角;下中切牙-下颌平面角

  • 第4题:

    头影测量Y轴角小说明

    A、上颌后缩

    B、上颌前突

    C、下颌前突

    D、下颌后缩

    E、双颌前突


    参考答案:C

  • 第5题:

    X线头影测量是正畸治疗的一种辅助手段,因为它提供有关于下列哪些信息
    a.上、下颌基骨与颅底的关系
    b.上前牙与上颌基骨的关系
    c.下前牙与下颌基骨的关系
    d.上下颌前牙的相互关系
    e.正畸治疗的进展

    A.只有abc
    B.bce
    C.ade
    D.abcd
    E.以上均正确

    答案:E
    解析: