在成批大量生产中,外花键的几何形状和相互位置偏差一般都采用()进行检验。

题目
在成批大量生产中,外花键的几何形状和相互位置偏差一般都采用()进行检验。


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  • 第1题:

    花键塞规用来检验内花键,花键环规用来检验外花键。


    错误

  • 第2题:

    1、表面粗糙度是()误差。

    A.宏观几何形状

    B.微观几何形状

    C.宏观相互位置

    D.微观相互位置


    错误

  • 第3题:

    12、对于几何公差的描述,下面哪句是错误的()

    A.标准规定:几何公差分为四种,分别为形状公差、方向公差、位置公差和跳动公差

    B.在图样中,几何公差一般采用代号标注,也允许在技术要求中用文字加以说明

    C.对有形状、方向、位置和跳动公差要求的零件,在图样上必须标明基准

    D.把确定几何公差与尺寸公差之间相互关系的原则称为公差原则,它包括独立原则和相关要求


    对有形状、方向、位置和跳动公差要求的零件,在图样上必须标明基准

  • 第4题:

    用花键塞规和花键环规检验小径、大径和键宽表面的实际尺寸、形状误差等、各键的位置度公差、大径表面的同轴度误差等。


    正确

  • 第5题:

    4、4. ()矩形花键的几何公差设计中,键宽采用位置度,并采用最大实体要求。


    正确