判断题当试品绝缘中存在气隙时，随着试验电压U的变化，tanδ值呈闭合的环状曲线。A 对B 错

第1题：

当试验电压U及电源频率ω一定、被试品的电容值也一定时，介质损耗P与tanδ成反比。

A对

B错

第2题：

当试品绝缘中存在气隙时，随着试验电压U的变化，tanδ值呈闭合的环状曲线。

A对

B错

第3题：

当试品绝缘受潮时，随着试验电压U的变化，tanδ值呈开口环曲线。

第4题：

当被试品具有较大电容时，tanδ测试不能有效反映试品中可能存在的局部缺陷。

第5题：

tanδ测试时，随着试验电压U的变化，tanδ值呈开口环曲线，则试品属于（）。

• A、良好绝缘
• B、绝缘中存在气隙
• C、绝缘受潮

第6题：

对于良好绝缘的tanδ测试，在额定电压以下时，随着试验电压U的升高而基本不变。

第7题：

当绝缘介质一定，外加电压一定时，介质损耗电流IR的大小与介质损耗正切值tanδ成（）。

• A、反比
• B、正比
• C、U形曲线比例关系

第8题：

第9题：

第10题：

第11题：

第12题：

第13题：

当被试品具有较大电容时，tanδ测试不能有效反映试品中可能存在的局部缺陷。

A对

B错

第14题：

当被试品具有较大电容时，tanδ测试只能反映整体的绝缘状况。

第15题：

当试品绝缘中存在气隙时，随着试验电压U的变化，tanδ值呈闭合的环状曲线。

第16题：

当试验电压U及电源频率ω一定、被试品的电容值也一定时，介质损耗P与tanδ成反比。

第17题：

对于良好绝缘的tanδ测试，在额定电压以下时，随着试验电压U的升高而降低。

第18题：

当试验电压U及电源频率ω一定、被试品的电容值也一定时，介质损耗P与tanδ成（）。

• A、反比
• B、正比
• C、U形曲线比例关系

第19题：

第20题：

第21题：

第22题：

第23题：